JJG 696-2015鏡向光澤度計和光澤度板檢定規程
1、范圍
本規程適用于鏡向光澤度計及鏡向光澤度板的首次檢定、后續檢定和使用中的檢查。
2、術語和計量單位
2.1 鏡向光澤度 specular gloss
鏡像光澤度是對鏡向光澤的相對測量。參照標準是折射率 nD=1.567的黑玻璃，假設其平面得到理想拋光的狀態下，由該平面對自然光束進行鏡面反射，并定義此時的鏡向光澤度值為100.0。鏡像光澤度的符號為G（θ）。
2.2 計量單位? 鏡像光澤度的單位為光澤單位（gloss unit），采用縮寫（GU）。
?
3、概述
3.1 鏡向光澤度計
鏡向光澤度計適用于測量油漆、紙張、塑料、搪瓷、陶瓷、鋁及鋁合金等平面制品的鏡向光澤度。
光澤度計利用反射原理對樣品的光澤度進行測量。即：在規定入射角和規定光束的條件下照射樣品，得到鏡向反射角方向的光束，其測量方式通常有連續測量和瞬態測量兩種。光澤度計由光源、透鏡、接收器和顯示儀表等組成，其測量原理分為平行光路（見圖1）和會聚光路（圖2）兩種。光澤度計可分為定角式和變角式，常用角度為20°、45°、60°、75°、85°，其光學參量見附錄C。
3.2 鏡向光澤度板
鏡向光澤度板分為標準板和工作板兩級，工作光澤度板通常和工作光澤度計配套使用，用于測量過程中定標。光澤度板按光澤度值又分為高、中、低三種。高光澤度板由黑色光學玻璃或其他材料制成。中光澤度板和低光澤度板由涂釉陶瓷或黑色光學玻璃磨砂制成。
?
4、計量性能要求
4.1 光澤度計
光澤度計分為標準光澤度計和工作光澤度計，后者又分為兩級。
光澤度計的計量性能應符合表1的規定。
4.2 光澤度板
光澤度板的計量性能應符合表2的規定。
?
4.2.1 高光澤度板
4.2.1.1 平面度
高光澤度板的長度小于等于80mm時，其工作面的干涉光圈應不大于10個光圈，局部光圈不大于2個光圈；長度大于80mm時，其干涉光圈應不大于15個光圈，局部光圈不大于3個光圈。
4.2.1.2 光譜透射比
高光澤度板在400-760nm范圍內的光譜透射比應不大于0.03。
4.2.2 陶瓷光澤度板的反射中性誤差
陶瓷光澤度板在400-760nm范圍內的光譜反射中性誤差不應超過±12%。按公式1計算：
?
?
5、通用技術要求
5.1 光澤度計
5.1.1 外觀要求
5.1.1.1 光澤度計應有銘牌標志，標明儀器名稱、型號、生產企業、儀器編號、出廠日期等。銘牌應牢固，字跡應清晰。
5.1.1.2 光澤度計的讀數顯示應清晰；儀器的緊固件及接觸件應可靠；光學元件表面應清潔無污。
5.1.1.3 光澤度計測量基準平面應平直可靠，測量基準平面與被測樣品之間的間隙不大于0.05mm。
5.1.1.4 照明均勻性
發射光源場的光照應無明顯可見的不均勻性。
5.1.2 光源和接收器的匹配
標準光澤度計必須符合國際照明委員會（CIE）規定的光源為D65照明體或A光源，接收器光譜應符合視覺函數V(入)的要求。兩種光源條件下得到的光澤度示值誤差應符合表3的規定。
?
5.1.3 配套光澤度板
5.1.3.1 標準光澤度計應配有標準光澤度板。每套標準板由高、中、低三塊光澤度板組成。
5.1.3.2 一般工作光澤度計至少應配兩塊工作板，一塊為高澤度板，另一塊為中或者低光澤度板。程控自校的工作光澤度計可不配中低光澤度板。
5.2 光澤度板
5.2.1 外觀
5.2.1.1 光澤度板應有編號，并配有包裝保護盒。保護盒上應有制造廠名或者廠標。
5.2.1.2 光澤度板的工作表面不應有影響光澤度測量的缺陷，側面應有測量定位標記。
5.2.2 高中低光澤度值的劃分
光澤度板按照其60°光澤度值劃分為：
高光澤度板：Ga（60°）>70.0GU；
中光澤度板：30.0GU≤Ga（60°）≤70.0GU；
低光澤度板：Ga（60°）<30.0GU
?
6、計量器具控制
包括光澤度計和光澤度板的首次檢定、后續檢定和使用中檢查。
6.1 檢定條件
6.1.1 檢定設備
6.1.1.1 標準光澤度檢定設備
檢定標準光澤度計應使用光澤度基準板組。光澤度基準板組由高光澤、中光澤和低光澤各三塊基準板組成。
塞尺一套（須含0.05mm塞片）；二級平面平晶一塊。
6.1.1.2 工作光澤度計檢定設備
檢定工作光澤度計應使用光澤度標準板。光澤度標準板由高光澤、中光澤和低光澤各一塊標準板組成。
塞尺一套（須含0.05mm塞片）；二級平面平晶一塊。
6.1.1.3 標準光澤度板檢定設備
檢定標準光澤度板應使用光澤度基準裝置；
檢定高光澤度板的光譜透射比和陶瓷光澤度板的光譜反射中性誤差應使用分光光度計（光譜范圍：380nm-780nm），分光光度計計量性能要求達到二級以上。
檢定高光澤度板平面度應使用二級平面平晶。
6.1.1.4 工作光澤度板檢定設備
檢定工作光澤度板應使用標準光澤度計。
6.1.2 環境條件
無干擾及振動源的清潔實驗室。
室溫：（20±5）°C，相對濕度：<85%。
6.2 檢定項目
6.2.1 光澤度計
光澤度計的檢定分為標準光澤度計和工作光澤度計的兩類檢定。檢定項目見表4.
6.2.2 光澤度板
光澤度板的檢定項目見表5。
6.3 檢定方法
6.3.1 光澤度計
標準光澤度計
外觀、測量范圍和分度值
1、通過目視觀察和手動相結合，按5.1.1.1、5.1.1.2及5.1.2的各項內容進行檢查，并在原始記錄的相關欄目中填寫檢查結果。
2、測量基準面的平整性
在光澤度計的測口（即測量基準平面）上覆蓋上二級平晶，然后在各個方向用塞尺測量兩者之間可能形成的間隙，如果使用0.05mm的塞尺可以塞入間隙并達到測口內側，則判定該光澤度計的測量基準平面的平整性不合格。
3、照明均勻性
在光澤度計的樣品測量窗口上平貼一張描圖紙，觀察照明的均勻情況，應滿足5.1.1.4的規定。
4、穩定度和零值誤差
A采用連續測量方式的光澤度計
開機穩定后，在無受光條件下（放置遮光罩或光阱等）調節零位，然后放上高光澤度標準板，按其光澤度值設定光澤度計的示值。每5min交替記錄示值和零位一次，30min內測得的各示值之間的偏差不得超過表1對穩定度和零值誤差的要求。
B采用瞬態測量方式的光澤度計
先在無受光條件下（放置遮光罩或光阱等）測量零位；然后對高光澤板進行測量，每次測量間隔10S，共測量6次。示值之間的偏差不得超過表1對穩定度和零值誤差的要求。
5、示值誤差
A采用連續測量方式的光澤度計
儀器預熱穩定后，調整好零位，用高光澤度基準板或被檢測光澤度計配套高光澤度標準板的標準值設定光澤度計的示值，然后依次換上中光澤和低光澤的基準板，記下光澤度計的讀數。
示值誤差計算公式（2）（圖）
上述檢定至少應重復兩次，并分別對中和低光澤度的讀數計算平均值，其值不應超過表1的要求。每次檢定均應依次在高、中、低光澤度板中分別進行。
B采用瞬態測量方式的光澤度計
無需預熱調整零位，a、如可以調整光澤度示值，先用高光澤度基準板或被檢測光澤度計配套高光澤度標準板的標準值設定光澤度計的示值，然后依次換上中光澤度和低光澤度的基準板，記下光澤度計的讀數；b、如不可以調整光澤度示值，先放在自校板上自校，然后依次換上高光澤、中光澤和低光澤的基準板，記下光澤度計的讀數。
示值誤差計算公式（3）（圖）
上述檢定至少應重復兩次，并分別對高、中和低光澤度的讀數計算平均值，其值不應超過表1的要求。每次檢定均應依次在高、中、低光澤度板中分別進行。
6.3.1.2工作光澤度計
測量方法同6.3.1.1，檢定設備使用標準光澤度板。
6.3.2 光澤度板的檢定
6.3.2.1 標準光澤度板
1、外觀
通過目視觀察，按5.2.1.1、5.2.1.2的要求進行檢查。
使用吹球清潔表面。如表面有污痕，用清潔液及擦鏡紙輕輕擦去。按測量要求選擇基準光澤度計的測量角度。按操作技術規范使基準光澤度計處于穩定的工作狀態，并調好零位。
2、光澤度值
零位調整好后，按被檢標準板的分類取相應的基準板，將其緊貼基準光澤度計的測量基面，并對準中心位置。按基準板的光澤度值設定基準光澤度計的示值。
換上被檢標準板，對準中心位置，并緊貼于基準光澤度計的測量基面，然后記錄其讀數，即得到該板的光澤度值。
在每次檢定結束時，應對基準板的光澤度值進行復核，并檢驗基準光澤度計的零位。被檢標準板數量較多時，應在檢定過程中復核此兩個項目。
對被檢標準板應實行兩次檢定，光澤度值取兩次平均值為被檢標準板的標定值。被檢標準板中心的光澤度值應符合4.2和5.2.2的規定。
光澤度板檢定的正常位置，應按長度方向平行與測量平面，否則應在證書上另加注說明。
3、高光澤度板平面度
將平面平晶放在高光澤度板測試面上，觀察其干涉條紋，按4.2.1.1要求進行檢查。
4、高光澤度板光譜透射比
用分光光度計測量高光澤度板的光譜透射比，應符合4.2.1.2的要求。
5、陶瓷光澤度板光譜反射中性誤差
對首次生產的陶瓷光澤度板，用分光光度計測量其光譜反射率P入，取P入與P560（波長為560nm的反射率）的最大差為光譜反射中性誤差。它應符合4.2.2的要求。
6、光澤度值的年變化量
按相隔1年的兩次送檢的光澤度板之光澤度值計算變化量，應符合表2的要求。
6.3.2.2工作光澤度板
測量方法同6.3.2.1，檢定設備使用標準光澤度計和標準光澤度板。
6.4檢定結果處理
首次檢定的光澤度計和光澤度板要求全部指標均合格。后續檢定和使用中檢驗的光澤度計，其示值誤差、穩定度、零值誤差等指標必須合格；后續檢定和使用中檢驗的光澤度板，其年變化量指標必須合格。
經檢定合格的光澤度計、光澤度板發給檢定證書；不合格的光澤度計、光澤度板發給檢定結果通知書，并注明不合格項目。
檢定證書要注明被檢測樣品所對應的國家標準或ISO標準的代號，否則特別注明測量角和張角。
6.5檢定周期
光澤度計及光澤度板的檢定周期一般不超過一年。
